高低温冷热冲击试验箱是一种用于模拟极d温度快速变化环境的可靠性测试设备,主要用于评估电子元器件、集成电路、汽车零部件、航空航天材料、产品及消费类电子产品在剧烈温度交变条件下的耐久性、稳定性和失效模式。其核心功能是通过在极短时间内(通常几秒至几十秒)将样品从高温区(如+150℃)切换至低温区(如-65℃或更低),反复循环,以加速暴露材料因热胀冷缩产生的微裂纹、焊点疲劳、涂层剥落等潜在缺陷。
高低温冷热冲击试验箱的使用方法:
一、预处理
将待测样品放置在正常的试验大气条件下(如室温环境),直至样品温度稳定(通常需静置数小时)。此步骤确保样品初始状态一致,避免因温度差异影响试验结果。
二、初始检测
样品检查:将样品与标准要求(如尺寸、外观、性能参数)进行比对,确保符合试验条件。
放置样品:将样品按标准要求放入试验箱内的样品架或吊篮中,确保样品与箱壁、样品架无直接接触,避免温度传导不均。
三、试验执行
试验通常包含高温冲击、低温冲击及循环冲击三个阶段,具体步骤如下:
高温阶段
设定参数:将试验箱温度升至预设高温值(如+70℃),保持1小时或直至样品温度稳定(以时间较长者为准)。
观察记录:记录温度变化曲线及样品状态(如是否变形、开裂)。
低温阶段
快速转换:高温阶段结束后,在5分钟内将样品转移至已调节至预设低温值(如-55℃)的试验箱内。
保持时间:保持1小时或直至样品温度稳定。
观察记录:检查样品是否出现脆化、收缩或电气性能异常。
循环冲击
重复流程:按“高温→低温→高温"的顺序重复上述步骤,完成3个完整循环周期(部分标准可能要求更多循环)。
误差调整:根据样品大小及试验箱空间,允许时间存在轻微误差(如±5分钟)。
四、恢复
试验结束后,将样品从试验箱中取出,放置在正常大气条件下(如室温环境)静置,直至样品温度恢复至初始状态。此步骤用于观察样品在脱离极d环境后的性能恢复情况。
五、后检测
性能评估:对照标准要求,检测样品外观(如裂纹、变色)、尺寸变化、重量损失及电气性能(如电阻、绝缘性)。
结果判定:根据损伤程度(如裂纹数量、性能衰减率)评定样品是否合格。